Browsing by Author "Aguillón, Miguel A."

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    Desarrollo de un sistema de tomografía por el método impedancia eléctrica
    (1997) Zapata, Angel R.; Castro, Mario; Gaona, Andrés; Aguillón, Miguel A.; Rosell, Javier; Cruz, Felipe; Oropeza, Beatriz; Vázquez, David; Carrera, Jorge; Laboratorio de Bioingeniería, División de Investigación en Neurociencias, Instituto Mexicano de Psiquiatría
    La tomografía de Impedancia Eléctrica (TIE) es un método particular de obtención de imágenes de regiones internas de un cuerpo de acuerdo a la distribución de la impedancia. Consiste en la inyección de corrientes eléctricas de radiofrecuencias menores a 1MHz por medio de un par electrodos y en la medición de voltajes sobre la superficie del cuerpo usado otro par. La imagen que se reconstruye es la correspondiente a una sección transversal del objeto, de forma similar a lo que sucede en tomografía de rayos x.
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    Proyecto de tomografía por el método de impedancia eléctrica. Avances actuales
    (2000) Zapata F., Angel R.; Gaona J., Andrés; Castro, Mario; Aguillón, Miguel A.; Vázquez, David; Laboratorio de Bioingeniería
    En este trabajo se presentan los avances más recientes en el desarrollo de este sistema de tomografía por el método de impedancia eléctrica, es decir, de un modelo que simula un "foco epiléptico", con el fin de adentrarnos en este tipo de investigación, cuyos resultados son prometedores a nivel mundial. Este sistema es de gran importancia en la psiquiatría por requerir solamente de un equipo portátil de bajo costo y de posible utilidad para resolver los problemas de diagnóstico en las neurociencias.